Obiekt
Tytuł: Wybrane zagadnienia z podstaw metrologii
Wydawca:
Miejsce wydania:
Prawa:
Właściciel praw:
Licencja:
Prawa dostępu:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Słowa kluczowe:
Pomiar - podręczniki akademickie
Uwagi:
Język:
Format:
Identyfikator:
Digitalizacja:
Wersja elektroniczna : wtórna ; Biblioteka Politechniki Łódzkiej. Oddział Digitalizacji.
Lokalizacja oryginału:
Biblioteka Politechniki Łódzkiej
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- CYBRA Łódzka Regionalna Biblioteka Cyfrowa > Politechnika Łódzka > Wydawnictwa uczelniane > Skrypty i podręczniki PŁ
Data ostatniej modyfikacji:
2015-06-15
Data dodania obiektu:
2008-03-26
Liczba wyświetleń treści obiektu:
18 595
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://cybra.lodz.pl/publication/2244
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Wybrane zagadnienia z podstaw metrologii | 2015-06-15 |
