Hirsch, P.B. ; Howie, A. ; Nicholson, R.B. ; Pashley, D. W. ; Whelan, M. J.
Licencja ustawowa ; Podstawa prawna : Ustawa z dn. 4 lutego 1994 r. o prawie autorskim i prawach pokrewnych Art. 28 pkt 3 (Dz.U. 2006 nr 90 poz. 631)
elektron ; mikroskop ; kryształy
Biblioteka Politechniki Łódzkiej. Oddział Tworzenia Zasobów Cyfrowych. ; Wersja elektroniczna : wtórna
Biblioteka Politechniki Łódzkiej
2023-11-24
2023-11-24
1
https://cybra.lodz.pl/pl/publication/30938
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Electron microscopy of thin crystals | 2023-11-24 |