Kabza, Zdzisław. ; Kostyrko, Krystyna
Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
Licencja ustawowa ; Podstawa prawna : Ustawa z dn. 4 lutego 1994 r. o prawie autorskim i prawach pokrewnych Art. 28 pkt 3 (Dz.U. 2006 nr 90 poz. 631)
proces pomiarowy ; pomiar - podręczniki akademickie ; opracowanie wyników pomiarowych ; metrologia ; przyrządy pomiarowe
Politechnika Łódzka. Podręczniki akademickie. ; Red. nauk. Wydz. : Kapitaniak, Tomasz
oai:cybra.p.lodz.pl:17578 ; id skryba-crisp ; ISBN: 83-7283-159-9
Biblioteka Politechniki Łódzkiej. Oddział Tworzenia Zasobów Cyfrowych. ; Wersja elektroniczna : wtórna
Biblioteka Politechniki Łódzkiej
2020-10-21
2020-10-21
116
https://cybra.lodz.pl/pl/publication/20783
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Ciepłucha, Jan (1940- )., 2005, Podstawy metrologii | 2020-10-21 |
Ciepłucha, Jan (1940- ).
Ciepłucha, Jan (1940- ).
Ciepłucha, Jan (1940- ). Gundlach, Władysław Rudolf (1921-2007). Kozanecka, Dorota (1947- ).
Ciepłucha, Jan (1940- ). Gundlach, Władysław Rudolf (1921-2007). Kozanecka, Dorota (1947- ).
Ciepłucha, Jan (1940- ). Gundlach, Władysław Rudolf (1921-2007). Kozanecka, Dorota (1947- ).
Ciepłucha, Jan (1940- ).
Ciepłucha, Jan (1940- ). Ciepłucha, Jan (1940- ). Red.