Swędrowski, Leon. Red. ; Kiciński, Wiesław (1952- ). Red.
Kiciński, Wiesław. ; Świsulski, Dariusz. ; Hasse, Lech. ; Kacprzak, Tomasz. ; Bień, Andrzej. ; Domańska, Anna. ; Gniotek, Krzysztof. ; Gołębiowski, Jacek. ; Hartman, Marek. ; Kuśmierek, Zygmunt. ; Rak, Remigiusz. ; Roskosz, Ryszard. ; Skubis, Tadeusz. ; Smulko, Janusz. ; Swędrowski, Leon. ; Ulman, Zenon. ; Winiecki, Wiesław. ; Zakrzewski, Jan. ; Konczakowska, Alicja. ; Kubisa, Stefan. ; Minkina, Waldemar Andrzej. ; Nowakowski, Antoni. ; Sankowski, Dominik.
Licencja ustawowa ; Podstawa prawna : Ustawa z dn. 4 lutego 1994 r. o prawie autorskim i prawach pokrewnych Art. 28 pkt 3 (Dz.U. 2006 nr 90 poz. 631
pomiar ; niepewność pomiaru ; przyrządy pomiarowe
Skład: Kwiatkowska- Kasperowicz, Halina. ; Projekt okładki: Olszonowicz, Katarzyna.
oai:cybra.p.lodz.pl:16185 ; ISBN: 83-911669-5-3
Biblioteka Politechniki Łódzkiej. Oddział Tworzenia Zasobów Cyfrowych. ; Wersja elektroniczna : wtórna
Biblioteka Politechniki Łódzkiej
2019-06-10
2019-06-04
25
https://cybra.lodz.pl/pl/publication/19244
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Metrologia dziś i jutro: praca zbiorowa | 2019-06-10 |